關於
▲面對 AI 時代的挑戰:掌握 I/V 測試關鍵技術,強化半導體電性驗證力
▲從原理到實作,打通電性量測盲點的線上實戰課
▲主辦單位:品勛科技/Keysight 正式授權經銷商

  面對高速演進的 AI、量子計算、車用電子等應用,工程師如何確保半導體元件的可靠性與效能?本線上研討會將以實際應用角度出發,從半導體元件電性量測的原理與實務操作技巧談起,延伸到如何應對「元件微弱電流量測」、「短時間電性行為變化捕捉」等技術瓶頸,幫助您提升整體測試效率與結果準確度。立即報名,實驗室的升級之路,從一台源表開始!

☐詳細活動介紹:https://www.pinsyun.com.tw/content-195.html

* 歡迎將本課程與您的同事或業界好友分享!經主辦方審核確認,您推薦的好友或同事報名並出席活動,推薦人與被推薦的新朋友將於會收到 City Café 咖啡券(限量前 50 份,恕無法重複發放)
時間
周三, 2025年 7月 30日 · 2:00 p.m. Taipei (GMT +8:00)
議程
  • 實現半導體參數的測試與分析
  • 實際DEMO測試:
  • 1、透過EasyEXPERT – Application Test 快速量測LED導通I-V曲線
  • 2、透過EasyEXPERT – Classic Test 量測Power MOSFET特性曲線
  • 3、透過PathWave IV Narrow pulse test – 10A-10uS
演講人
1734587961-553901df765c0589
Vincent Lin
品勛科技技術協理